Curso de Espectroscopa Fotoelectrnica de Rayos X ? Curso de Espectroscopa Fotoelectrnica de

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    30-Jul-2018

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  • Curso deEspectroscopa Fotoelectrnica de Rayos X (XPS) aplicado a nuevos materiales y catlisis

    6 al 10 de Noviembre de 2017

    Profesores Responsables: Dr. Enrique Rodrguez Castelln (UM, Espaa)Dr. Rafael Luque (UCO, Espaa)Profesores Colaboradores: Dr. Octavio Furlong (UNSL-CONICET)Dr. Marcelo Nazzarro (UNSL-CONICET)

    Instituto de Fsica Aplicada, CCT San Luis , CONICETDepartamento de Fsica Universidad Nacional de San Luis

    Para consultas sobre el curso, ayuda econmica para pasajes y viticos e inscripciones, escribir a: nazzarro@unsl.edu.ar

    Objetivos: Introducir al alumno a los conocimientos mnimos necesarios para poner a su servicio la tcnica de caracterizacin Espectroscopa Fotoelectrnica de Rayos X (XPS) mediante clases tericas, y experiencias prcticas a partir de sus propias muestras de estudio o muestras brindadas por sus profesores. Se pretende que los alumnos, al finalizar el curso, puedan interpretar y analizar los resultados provistos por esta tcnica.

    Destinatarios: Egresados universitario preferentemente de las carreras de Qumica, Fsica, e Ingenieras vinculadas con nuevos materiales y/o catlisis y que necesiten esta tcnica para llevar adelante su trabajo de investigacin

    PREINSCRIPCIN - INGRESAR AQU

    https://goo.gl/forms/lkc7xr3M1duS2mNI3

  • Curso deEspectroscopa Fotoelectrnica de Rayos X (XPS) aplicado a nuevos

    materiales y catlisis

    Contenidos: El concepto de superficie - Tcnicas de anlisis de superficies. Introduccin al XPS - Resea histrica - Base fsica e interpretacin del proceso - El efecto fotoelctrico - Esquemas conceptuales de XPS - Fuentes de radiacin X - Radiacin sincrotrn - Tipos de espectrmetros. Detectores. Sistemas de ultra alto vaco - Fundamentos de XPS - Teorema de Koopman. Seales fotoelectrnicas y seales Auger - Trminos espectroscpicos - Sensibilidad superficial - El concepto de recorrido libre medio - Anlisis qumico elemental - Interpretacin espectral - Espectros panormicos - Espectros multirregin. La correccin por el efecto de carga superficial - Tipos de seales. Plasmones de prdida - Anlisis de la seal de fondo. Desplazamiento qumico - Ejemplos ilustrativos - Interpretacin de espectros - Ajuste de seales - Seales satlites - Ejemplos. El parmetro modificado de Auger - Diagramas de Wagner. Anlisis cuantitativo. Ejemplos - Errores ms comunes. Perfiles de profundidad - ARXPS (XPS de ngulo resuelto) - Perfiles de profundidad con bombardeo con plasma. Anlisis de imagen. Ejemplos. Aplicaciones del XPS - Estudio de catalizadores. Estudio de nuevos materiales - Estudio de adsorbentes - Estudio de corrosin - Estudios de adhesin - Estudios de interfases. Estudios de membranas -Anlisis de espectros mediante el programa Multipak - Introduccin al programa - Realizacin de casos prcticos por parte de los alumnos - Bases de datos de XPS. Manejo de las bases de datos - Programas de conversin.

    Cupo limitado

    Carga horaria: 40 hs

    Fecha lmite de preinscripcin: 1 de Septiembre de 2017

  • Curso deEspectroscopa Fotoelectrnica de Rayos X (XPS) aplicado a nuevos

    materiales y catlisis

    Bibliografa: "Spectroscopy in Catalysis", J.W. Niemantsverdriet, 2007 WILEY-VCH. "Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy",

    Edited by D. Briggs and J.T. Grant, 2003 "X-ray Photoelectron Spectroscopy: An introduction to Principles and

    Practices, Paul van der Heide, 2011 "Practical Surface Analysis -Auger and X-ray Photoelectron

    Spectroscopy", D. Briggs and M. P. Seah (Editors), Wiley Interscience, 1990 (2nd ed.)

    "Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy", Jolm F. Moulder, William F. Stickle, Peter E.Sobol and Kennetlf D. Bomben. Perkin-Elmer Corporation.

    Distintos papers segn el rea de inters de los alumnos.

    Cupo limitado

    Carga horaria: 40 hs

    Fecha lmite de preinscripcin: 1 de Septiembre de 2017